STM32Cube 开发之读写内部Flash--电源项目ADC采样校准系数存储-实现掉电读取数据--STM32或者GD32F处理器
作者:小教学发布时间:2023-10-04分类:程序开发学习浏览:112
导读:STM32Cube开发之读写内部Flash–电源项目ADC采样校准系数存储-实现掉电读取数据一、需求介绍1.1在进行电源项目开发中,输入与输出的电压电流经过硬件电路分压...
STM32Cube 开发之读写内部Flash–电源项目ADC采样校准系数存储-实现掉电读取数据
一、需求介绍
1.1 在进行电源项目开发中,输入与输出的电压电流经过硬件电路分压或者差分变换后,将低压的电压信号给到单片机如STM32F1系列单片机的ADC采样端口,如下图
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标签:STM32Cube 开发之读写内部Flash--电源项目ADC采样校准系数存储-实现掉电读取数据--STM32或者GD32F处理器_乐思智能科技有限公司的博客
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